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當前位置:首頁產品中心天美儀拓紫外可見和熒光光度計光譜儀器
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熒光分光光度計是用于掃描液相熒光標記物所發出的熒光光譜的一種儀器。其能提供包括激發光譜、發射光譜以及熒光強度、量子產率、熒光壽命、熒光偏振等許多物理參數,從各個角度反映了分子的成鍵和結構情況。
紫外可見分光光度計技術指標 1.1 雙光束測量方式,五檔帶寬可調; *1.2 實時的暗電流自動校正技術; *1.3 儀器自檢及GLP/GMP導向功能; *1.4 波長驅動細分,高壓同步伺服技術:實現最大掃描速度達2000nm/min(移動速度3000nm/min);最小波長調節量為0.01nm;
紫外可見分光光度計技術指標 1. 主要性能特點 *1.1光學系統:平行光路雙光束,真正的雙光束系統; *1.2采用機刻非球面小階梯光柵的Seya-Namioka單色器,此光柵具有能量高,色散能力強,消相差等優點; 1.3 多波長吸光度測量(可1~6個波長同時測量)、樣品濃度檢測(1~3波長法測量,標準曲線校正或系數輸入法計算)、波長掃描(多階導數,譜圖平滑處理,譜圖計算等數據處理功能)、時間掃描
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